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描述：促低網(wǎng)！日本NITTOSEIKO抗阻分析儀MCP-T710Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標準之一。隨著科學技術(shù)的發(fā)展，研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域?qū)Σ牧峡焖?、輕松管理的需求日益增長。其中，電阻率（表面、體積、電導率）是表示材料狀態(tài)和性能的指標。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準確地測量電阻率的設備。
產(chǎn)品型號：MCP-T710廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-01-18訪問量：493
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | Nittoseiko Analytech/日東精工 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子/電池,電氣 | 序列號 | 137，1703，2088 |
促低網(wǎng)！日本NITTOSEIKO抗阻分析儀MCP-T710
促低網(wǎng)！日本NITTOSEIKO抗阻分析儀MCP-T710
該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。
與傳統(tǒng)的4端子法不同，無需為測量對象準備電極，使用本公司提供的各種4點探頭即可一鍵測量電阻率。
■導電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導電橡膠、
導電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
可以隨時隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導率。
與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴大至 10 7 Ω
通過改變電流方向即可測量硅片
恒定電流可變功能（可使用微小電流進行樣品測量）
可輸出2000個測量結(jié)果至USB存儲器
通過觸摸屏提高操作性
名稱/產(chǎn)品簡稱GX 用 ASP 探頭 RMH110
，GX Ⅱ用 GP ASR 探頭 RMH501
規(guī)格
符合 JIS K 7194
針距：5 mm
針尖：0.37R x 4 件
彈簧壓力：220 g/件
應用 符合 JIS K 7194 的標準探頭。特點包括
導電塑料、導電涂料和薄膜。
名稱/產(chǎn)品縮寫
ESP 探頭 RMH114 for GX,GP
ESR 探頭
RMH502 for GXⅡ
規(guī)格
引腳間：5mm
引腳jian端：φ2mm x 4
彈簧壓力：230g/件
應用
異質(zhì)樣品，如混合有碳粉、金屬粉末等的導電塑料（特別是注塑產(chǎn)品）
特點
引腳jian端直徑為 2 mm 因為表面形狀，施加的電流容易流動。
名稱/產(chǎn)品簡稱
GX用LSP探頭 RMH116 ，GXⅡ用GP
LSR探頭
RMH503
規(guī)格
引腳間：5mm
引腳jian端：球 D2mm x 4彈簧壓力： 140g
/個
應用
導電橡膠和薄膜等軟樣品 很難卡在橡膠中。
名稱/產(chǎn)品代碼
PSP 探頭 RMH112 for GX,GP
PSR 探頭
RMH504 for GXⅡ
規(guī)格
引腳間距：1.5mm引腳jian端
：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/件
應用
薄膜、小樣品、狹窄空間
特點
用于薄膜的標準探針，具有細引腳，引腳間距為 1.5 mm。
名稱/產(chǎn)品簡稱
GX用QP2探頭 RMH119 ，GXⅡ用GP
QR探頭
RMH505
規(guī)格
插針之間：1.5mm
插針jian端：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個
應用 方形，特別適用于
小樣品和狹窄空間。電阻值約為4針串聯(lián)引腳的一半，并且手持式無法支持校正系數(shù)，因此不建議使用。
名稱/產(chǎn)品簡稱
GX用BSP探頭 RMH111 ，GXⅡ用GP
BSR探頭
RMH506
規(guī)格
： 引腳間距：2.5mm
引腳jian端：0.37R x 4
彈簧壓力：170g/引腳
應用：
兩個遠點之間的測量以及前后表面之間的測量（層間電阻）將 4
個
引腳分成 2 個，就像測試儀一樣 測量右手拿著一張，左手拿著一張。至于主機，GXII 更方便，因為可以使用腳踏開關(guān)。
注）無法測量電阻率。
名稱/產(chǎn)品簡稱
GX用NSCP探頭 RMJ202 ，GXⅡ用GP
NSCR探頭
RMH507
規(guī)格
： 引腳間距：1.0mm
引腳jian端：0.04R x 4 件
彈簧壓力：250g/件僅
適用于硅片，適用于
表面堅硬光滑的樣品，如陶瓷 引腳材料為碳化鎢，jian端鋒利，堅固彈簧壓力。
名稱/產(chǎn)品縮寫
TFP 探頭
RMJ217 for GX（已售完）
規(guī)格
引腳間：1.0mm
引腳jian端：0.15R x 4
彈簧壓力：50g/個
應用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜
名稱/產(chǎn)品代碼
AP2 探頭
RMH333 for GX,GP
AR 探頭
RMH508 for GXⅡ
規(guī)格
引腳間：10mm
引腳jian端 φ2 x 2
彈簧壓力：230g/引腳
應用
用于 表面處理鋼板和鎂合金等化學轉(zhuǎn)化涂層
使用
2 端子法進行測量，包括接觸電阻，導致高電阻值。由于電阻值不正確，我們不會將其轉(zhuǎn)換為電阻率。主要用于定性評價。
注）無法測量電阻率。
名稱/產(chǎn)品簡稱
GX 用 BP 探頭 RMH118 ，GX Ⅱ用 GP
BR 探頭
RMH509
規(guī)格
針尖：φ2 x 2
彈簧壓力：200g/針
用途
2 點探頭
用于測量表面處理鋼板、鎂合金等化學轉(zhuǎn)化涂層上的兩個遠點之間。 用于使用 2-點探頭測量接觸電阻。端子
方法 注）無法測量電阻率。
注）BSR探頭、AR探頭、BR探頭只能用于測量電阻值。
名稱/產(chǎn)品縮寫
探針檢查儀
RMH304
電阻值
1.0Ω
適用于
ASR/ESR/LSR/ASP/ESP/LSP
名稱/產(chǎn)品縮寫
探針檢查儀
RMH311
PSR
/PSP電阻值1.0Ω
名稱/產(chǎn)品縮寫
探針檢查儀
RMH313
電阻值
1.0Ω
應用
QR/QP2
名稱/產(chǎn)品縮寫
探針檢查儀
RMH312
NSCR
/NSCP/TFP電阻值為1.0Ω
名稱/產(chǎn)品縮寫
探針檢查儀
RMH335
對于電阻值1.0Ω的
AR/BR/AP/BP
名稱/產(chǎn)品簡稱
腳踏開關(guān)
RMJ802
應用/規(guī)格
測量開始/測量結(jié)束開關(guān)
或啟動鎖定釋放功能
| 測量方法 | 恒流施加法/四點探針法 |
|---|---|
| 數(shù)據(jù)顯示 | 640 x 480 點 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏 |
| 轉(zhuǎn)換器 | 上、下限值可單獨設置 |
| 探測 | 專用探頭 ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR |
| 數(shù)據(jù)輸出 | USB存儲器 |
| 電源 | AC85~264V 47~63Hz |
| 尺寸/重量 | W320 x D285 x H110mm（儲物箱打開時，W320 x D285 x H200mm） 約 2.4kg |
| 標準設備 | ASR 探頭，4 針探頭檢查器 |
| \ | 恒流值 | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1A | 100毫安 | 10毫安 | 1毫安 | 100μA | 10μA | ||
| 測量 范圍 | 10 -4 | ±(2.0%+30dgt) | |||||
| 10 -3 | ±(2.0%+20dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||||
| 10-2 | ±(1.0%+5dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | ||||
| 10-1 | ±(1.0%+3dgt) | ±(1.0%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||
| 10 0 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||
| 10 1 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||
| \ | 恒流值 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1毫安 | 100μA | 10μA | 1微安 | 0.1μA | ||
| 測量 范圍 | 10 2 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |
| 10 3 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | ||
| 10 4 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | |||
| 10 5 | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+3dgt) | ||||
| 10 6 | ±(1.0%+3dgt) | |||||
| 10 7 | ±(2.0%+5dgt) | |||||
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